芯片外观检测（AOI）设备专注于IC芯片外观光学检测，检测区域全面覆盖产品的所有表面，检测项包括产品印字面的表面缺陷检测，同时可利用3D-5S检测对产品除印字面的所有封装表面与针脚进行检测。

杰出的高产能

◆ 高产能源自我们成熟的算法架构，快速的AOI检测速度与良好的识别率；

◆ 每小时产量可达6,000-20,000。

精确的光学检测

◆ 我们拥有专门的光学实验室，在光学检测上存在深厚的项目积淀；

◆ 拥有经过长期验证的可靠测试软件与成熟的算法架构；

◆ 光学检测精度可达0.015毫米/像素。

柔性的模块化设计

◆ 遵循运泰利一贯的模块化设计原则，机械臂真空吸嘴数目可灵活调节；

◆ 设备可兼容2*2毫米到10*10毫米尺寸产品。

优异的设备稳定性

◆ 平均故障间隔时间：168小时。